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UV膜与蓝膜特性简介

来源:开云体网官网    发布时间:2024-02-23 02:33:33

  Wafer在减薄之前,会在Wafer的正面贴一层粘性膜,该层膜的作用是在Wafer正面固定芯片,便于磨片机在Wafer的背面研磨硅片。一般研磨之前硅片的厚度在700 μm左右,研磨之后,Wafer的厚度变为200 μm,甚至达到120 μm的程度,具体将视客户要求和芯片的应用环境情况而定,即Wafer减薄过程。Wafer在划片之前,会将Wafer的背面粘一层膜,该层膜的作用是将芯片粘在膜上,能保持晶粒在切割过程中的完整,减少切割过程中所产生的崩碎,确保晶粒在正常传送过程中不会有位移和掉落的情况,即芯片后封测环节中的划切过程。

  如上所述,芯片减薄划切过程中都用到了一种用于固定Wafer和固定芯片作用的膜。实际生产的全部过程中,该种膜通常用UV膜或蓝膜。UV膜和蓝膜在芯片减薄划切过程中有很重要的作用,但两者特性有明显的区别。

  UV膜和蓝膜均具有粘性,其粘性程度使用粘性剥离度来表示,通常单位使用N/20 mm或者N/25 mm,例如1 N/20 mm的意义是测试条宽度为20 mm,用180°的剥离角度从测试版上将其剥离的力是1 N。UV膜是将特殊配方的涂料涂布于PET薄膜基材表面,达到阻隔紫外光及短波长可见光的效果,图1所示为通用的UV膜结构图。一般UV膜由3层构成,其基层材质为聚乙烯氯化物,粘性层在中间,与粘性层相邻的为覆层(Release film),部分UV膜型号没有该覆层。

  UV膜通常叫紫外线照射胶带,价格相比来说较高,未使用时有效期较短,它分为高粘性、中粘性和低粘性三种,对于高粘性的UV膜而言,其未经过紫外线照射时粘性很大,粘性剥离度大约在 5 000 m N/20 m m 到12 000 mN/20 mm左右,但是在紫外线灯光照射的时间延长和照射强度增加之后,剥离粘性度会降到1 000 mN/20 mm以下;对于低粘性的UV膜而言,未经过UV照射时,其剥离粘性度在1 000 mN/20 mm左右,而经过紫外线照射之后,其剥离粘性度会降到 100 mN/20 mm 左右;中粘性的UV膜的粘性剥离度介于高粘性UV膜和低粘性UV膜之间。低粘性的UV膜在通过一段时间和一定强度的紫外线照射后,尽管其粘性剥离度会降到100 mN/20 mm 左右,但在Wafer的表面不会有残胶现象,晶粒容易取下;同时,UV膜具有适当的扩张性,在减薄划片的过程中,水不会渗入晶粒和胶带之间。蓝膜通常叫电子级胶带,价格较低,它是一种蓝色的粘性度不变的膜,相对于未经过紫外线照射的高粘性UV膜,其粘性剥离度一般较低,对紫外线 mm间不等,而且受温度影响会发生残胶;最早命名是由于该胶带为蓝色,现在随技术的发展,也陆续出现了其他的颜色,而且用途也得到拓宽。UV膜和蓝膜相比,UV膜较蓝膜稳定。UV膜无论在紫外线照射之前还是照射之后,UV膜的粘性度都较为稳定,但成本比较高;蓝膜成本相对来说还是比较便宜,但是粘性度会随着温度的变化而发生明显的变化,而且容易残胶。

  通常来说,对于小芯片减薄划片时使用UV膜,对于大芯片减薄划片时使用蓝膜,因为,UV膜的粘性能够正常的使用紫外线的照射时间和强度来控制,防止芯片在抓取的过程中漏抓或者抓崩。若芯片在减薄划切之后,直接上倒封装标签生产线,那么最好使用UV膜,因为倒封装标签生产线所使用的芯片一般均较小,而且设备顶针在蓝膜底部将芯片顶起,若使用较大粘性剥离度的蓝膜,可能使得顶针在顶起芯片过程中将芯片顶碎。RFID芯片面积一般均小于750 μm×750 μm,蓝膜加框后的Wafer通常直接进行倒封装为Inlay或者标签,因此RFID芯片在后封测时通常使用UV膜。

  蓝膜由于其受温度影响粘性度会发生明显的变化,而且本身粘性度较大,因此,一般面积较大的芯片或者Wafer剪薄划切之后直接进行后封装工艺,而非直接进行倒封装工艺做Inlay时,可优先考虑使用蓝膜 [7] 。现阶段,针对芯片尺寸小于1 mm的芯片,通常使用型号为D⁃184的低粘性UV膜。该UV膜仅仅有基层和粘性层,没有覆层,其基层为PVC材料,厚度为80 μm,粘性层为丙烯酸树脂漆(Acrylic),其厚度为10 μm,未经过紫外线照射之前的粘性剥离度为1 100 mN/25 mm,经过UV照射之后,粘性剥离度为70 mN/25 mm,因此其粘性范围可以在(70~1 100)mN/25 mm内调整。该型号的UV膜具有一些特点:其一,该型号的UV膜,在硅片表面使用剥离角度为180°进行剥离时,其速度能达到300 mN/25 mm;其二,该UV膜规定了自己的照射条件,紫外线 ,紫外线 ;其三,辐射的紫外线 nm左右。该UV膜实际使用时也许会出现了一些问题,即在倒封装生产线上出现了芯片漏抓的情况,主要是由于紫外线设备的功率未达到指定的要求,因此,在照射过程中,要延长照射时间,来补充照射强度不够的问题。若遇到UV灯功率(能量)不足时,建议:其一,擦净UV灯管和灯罩,改善UV光的反射效果;其二,UV灯老化应更换,瑞森特UV灯常规使用的寿命1 500 h就应该更换;其三,提高UV灯管单位长度内的功率,保证达到 80~120 W/cm;其四,紫外线灯管使用一段时间后,灯管应旋转 1 4 再用。采用D⁃184型UV膜实践加工了多片Wafer,当照射时间控制在40~45 s时,后端倒封装工艺进行非常顺利,若小于规定的时间,则会出现漏摘甚至崩碎的芯片,因此根据UV膜的特性,调整合适的粘性度,可提升芯片产业化效率。

  UV膜与蓝膜相比,它的粘性剥离度可变性使得其优越性很大,最大的作用为:用于 Wafer 减薄过程中对Wafer做固定;Wafer划切过程中,用于保护芯片,防止其脱落或崩片;用于Wafer的翻转和运输,防止已经划切之后的芯片发生脱落。规范使用UV膜和蓝膜的各个参数,根据芯片所需要加工的工艺,选择正真适合的UV膜或者蓝膜,既能节约成本,亦可以快速推进芯片产业化。



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